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压敏电阻交流作用下的老化机理
交流作用下。在正半周时,假设右侧为正极性,电压主要加在右侧的耗尽层上,使右侧的Zni向晶界迁移,而左侧所加电压很低,Zn
i向晶粒内迁移不大;在负半周,电压主要加在左侧,使左侧Zni向晶界迁移,右侧这时所加电压很低,Zni向晶粒体内迁移不大。总的结果是左右两侧的Zni都向晶界迁移。
源林电子(www.dgyuanlin.cn)是一家专业研发、生产压敏电阻的高科技电子元器件企业。主营压敏电阻、热敏电阻和温度传感器,自有研发团队,厂家直销!
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老化的表现:
老化是指在各种外加应力及外界因素作用下,其性能及电气物理参数发生改变,逐步偏离其起始性能指标。ZnO压敏电阻器老化后的I-V特性,老化主要集中在预击穿区,而击穿区的老化较小,表现为I-V特性曲线在低电场区向右偏移,阻性电流加大,功率损耗增大,压敏电压下降。直流电压作用后的老化,I-V特性不对称;交流电压作用下的老化。另老化后电容量减小,介电损耗增大。
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